Бренды

JEOL Ltd.

Компания JEOL Ltd. – лидирующий мировой производитель научного оборудования, используемого для исследований и разработок в сферах нанотехнологий, наук о жизни, оптических коммуникаций, криминалистики и биотехнологий. Используя свои уникальные технологии, продукты, сервисы и знания, JEOL помогает своим пользователям делать значительные прорывы при разработке новых продуктов и в научных исследованиях. Продукция фирмы JEOL включает научное-аналитическое, электронно-оптическое, промышленное, медицинское и многие другие виды современного высокотехнологичного оборудования.

Вакуумный пост JEE-420 предназначен для подготовки образцов электронной микроскопии. Он состоит из камеры испарения, автоматической вакуумной системы и системы электропитания. JEE-420 может быть использован для...

JSM-IT200 – серия компактных растровых электронных микроскопов от JEOL с возможностью работы в различных средах, обеспечивающий получение высококачественных изображений и микроанализ.

Сенсорный экран управляющего компьютера – новый...

Новый настольный РЭМ легок в управлении для начинающего. Полная автонастройка параметров электронно-оптической системы. Легкость управления обеспечена благодаря сенсорному экрану. Микроскоп компактен, но многофункционален. В режиме высокого...

Оже-микроанализаторы фирмы JEOL имеют аббревиатуру JAMP (JEOL Auger Micro Probe). В настоящее время фирмой JEOL прекращен выпуск моделей с гексаборид-лантановым катодом в связи со все более ужесточающимися...

Модель JEM-ARM200F, включающая корректор сферической аберрации для электронной оптической системы в качестве стандартного оборудования, достигает разрешения в растровом просвечивающем режиме...

Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) JEM-1400flash с максимальным ускоряющим напряжением 120 кВ. Микроскоп JEM-1400flash оснащён высококонтрастным полюсным наконечником объективной линзы и операционной системой новой разработки,...

Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) JEM-2100Plus оснащен высокопроизводительной гибкой электронно-оптической системой, разработанной и модернизируемой компанией JEOL на протяжении многих лет, и самой современной системой управления....

Микроскоп JSM-IT500LV это растровый электронный микроскоп с возможностью работы в низковакуумном режиме. Оснащён удобным и понятным пользовательским интерфейсом. Обладает высокой производительностью за счёт высокоскоростного столика образцов и...

Растровый электронный микроскоп JSM-IT500HR оснащён удобным и понятным пользовательским интерфейсом. Обладает высокой производительностью за счёт высокоскоростного столика образцов и возможностью управления посредством сенсорного экрана....

Многолучевая система JIB-4700F – многофункциональный исследовательский инструмент, состоящий из сканирующего электронного микроскопа с термополевым катодом Шоттки (TFE-SEM) и системы травления сфокусированным ионным лучом (FIB), смонтированными на...

Растровый электронный микроскоп высокого разрешения с возможностью анализа углеродных наноматериалов и диэлектрических композитов на их основе без напыления проводящих покрытий на поверхность образца...

JSM-7900F - многоцелевой растровый электронный микроскоп с эмиттером Шоттки, который позволяет выполнять широкий спектр анализов и наблюдений с высоким пространственным разрешением.

Электронная оптическая система обеспечивает...

JBX-5500FS - cистема электронно-лучевой литографии для изготовления нанотехнологических приборов и радиоустройств СВЧ диапазона, радиолокации и др.

Основные задачи и характеристики: • Применение...

Модель JSPM–5400 – сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения, имеющий режим бесконтактной атомно-силовой микроскопии. Дополнительно включает в себя цифровой процесс обработки сигнала (DSP),...

JSPM-4500 является сверхвысоковакуумным сканирующим зондовым микроскопом (СВВ СЗМ), предназначенным для исследования поверхностей с высоким разрешением. Этот прибор может использоваться и как...

Система Cross Section Polisher предназначена для получения поперечных сечений образцов для последующего изучения среза в растровом электронном микроскопе. Часть образца закрывается специальной защитной пластиной, защищающей ее от воздействия...

JPS-9200 – новый рентгено-фотоэлектронный рентгеновский спектрометр, используемый для микроанализа поверхности широкого набора типов образцов. Новый полусферический анализатор энергии электронов состоит из...

Микроанализаторы JEOL JXA-8230 – новое поколение приборов этого класса. Их серийный выпуск начался в 2009 г. В основе данной конструкции лежат идеи, реализованные еще в начале 80-х годов на базе микроанализаторв JCXA-733 (JCXA...

На базе пушки с катодом Шоттки, обеспечивающей ток 200 нА высокой стабильности, и хорошо отработанной конструкции электронно-зондовых микроанализаторов серии JXA-8230 «Superprobe» фирмой JEOL разработан электронно-зондовый...

ЯМР-спектрометры серии ECS разработаны для любых лабораторий, нуждающихся в надежной, простой, рутинной ЯМР-системе для изучения синтезируемых молекул и анализа смесей.

В линейку моделей серии...

JEOL Ltd.

Вакуумный пост JEE-420

Компактные растровые электронные микроскопы серии JSM-IT200

Настольный растровый электронный микроскоп JCM-7000 NeoScope

Оже-микроанализатор JAMP-9510

Просвечивающий микроскоп атомарного разрешения JEM-ARM200F

Просвечивающий электронный микроскоп JEM-1400Flash с ускоряющим напряжением 120 кВ

Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100Plus

Растровые электронные микроскопы серии JSM-IT500

Растровые электронные микроскопы серии JSM-IT500HR

Растровый электронный микроскоп JSM-7610F

Растровый электронный микроскоп высокого разрешения JIB-4700F Multibeam с ионной пушкой для микротравления

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7500F

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7900F

Система электронно-лучевой литографии JBX-5500FS

Сканирующий зондовый микроскоп JSPM-5400

Сканирующий зондовый сверхвысоковакуумный микроскоп JSPM-4500

Установка ионного травления

Фотоэлектронный спектрометр JPS-9200

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8230 Superprobe

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8530F Hyperprobe с термополевым источником электронов

ЯМР-спектрометры серии ECS