РУС ENG
 
Interactive Corporation — японская торговая компания, основанная в 1993 году, поставляет высокотехнологичное научное и промышленное оборудование ведущих японских, европейских и американских производителей.
 
Interactive Corporation — авторизованный торговый агент компаний: JEOL Ltd., Oxford Instruments, Gatan, Ulvac-Riko, Nikon Instech, Yamazaki Mazak.
Авторизованный дилер JEOL Ltd в России и странах СНГ

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F

Микроскоп JSM-7800F оснащен электронной пушкой на базе эмиттера Шоттки, супергибридной объективной линзой (конической объективной линзой, использующей скрещенные электростатические и электромагнитные поля) и новым пользовательским интерфейсом. Имея в распоряжении такие мощные функции, даже начинающий пользователь может легко получать изображения со сверхвысоким разрешением.

Комбинация магнитных и электростатических полей обеспечивает превосходный эффект, значительно улучшая разрешение растрового электронного микроскопа особенно при низких ускоряющих напряжениях. Кроме того, стандартный нижний детектор обеспечивает детектирование отраженных электронов, испускаемых при малых углах. Работа в режиме детектирования этих электронов позволяет снизить эффект электростатического заряда на поверхности образца.

JSM-7800F имеет мощную электронно-оптическую систему, которая включает пушку Шоттки, погружённую в конденсор для получения яркого электронного луча и обеспечивающую острую фокусировку даже при больших токах. Кроме того, поскольку при режиме микроанализа образец не находится в области электромагнитных полей объективной линзы, JSM-7800F обеспечивает энергодисперсионный и волнодисперсионный элементный анализ, анализ катодолюминесценции, анализ дифракции отражённых электронов и прочие аналитические функции.

Безмасляная высоковакуумная откачка турбомолекулярным насосом обеспечена в стандартной комплектации. Кроме того, JSM-7800F имеет новую функцию, которая позволяет одновременно, в режиме реального времени, наблюдение изображений с четырех детекторов. В результате, вы всегда можете легко найти соответствующий вашим потребностям сигнал изображения. Кроме того, применяя напряжение смещения на образце, вы можете наблюдать непроводящие образцы, в том числе изоляционные материалы (керамика и т.д.) и полупроводники.

Стандартный 5-осевой моторизованный столик образцов не только предотвращает образец от контакта с корпусом и деталями детекторов для обеспечения безопасности, но и позволяет задать условия перемещения для каждого нового образца.

Энергосберегающая система автоматически снижает потребление электроэнергии в случае, если РЭМ временно не используется.

Параметры Значения
Тип источника электронов эмиттер Шоттки
Пространственное разрешение 1,0 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 15 кВ, обычный режим) 0,8 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 15 кВ, низковольтный режим) 1,5 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 1 кВ, обычный режим) 1,2 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 1 кВ
Энергия электронного луча от 10 эВ до 30 кэВ
Увеличение от 25 до 1 000 000 крат
Ток луча 200 нА максимум
Аналитические приставки - опции ЭДС, ВДС, ДОЭ, анализаторы катодолюминесценции
Максимальный размер образца диаметр до 100 мм
Столик образцов Ось X: 70 мм Ось Y: 50 мм Ось Z: от 2 до 41 мм (непрерывно) Наклон: от –5 до 70° Вращение: 360° непрерывно
Система вакуумной откачки турбомолекулярная и ионная
Система шлюзования есть
Московское представительство компании Interactive Corporation
115191 Россия, Москва, ул. Большая Тульская, д.10, стр. 2, офис 222
тел/факс: +7 (495) 748 20 07, +7 (495) 737 51 68, e-mail: iac@microanalysis.ru