РУС ENG
 
Interactive Corporation — японская торговая компания, основанная в 1993 году, поставляет высокотехнологичное научное и промышленное оборудование ведущих японских, европейских и американских производителей.
 
Interactive Corporation — авторизованный торговый агент компаний: JEOL Ltd., Oxford Instruments, Gatan, Advance Riko, Cornes Technologies, Yamazaki Mazak.
Авторизованный дилер JEOL Ltd в России и странах СНГ

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7900F

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7900F

JSM-7900F - многоцелевой растровый электронный микроскоп с эмиттером Шоттки, который позволяет выполнять широкий спектр анализов и наблюдений с высоким пространственным разрешением.

Электронная оптическая система обеспечивает остросфокусированный электронный зонд при высоком токе луча, что позволяет эффективно получать результаты элементного микроанализа с помощью ЭДС, ВДС, анализа катодолюминесценции и анализа ориентации кристаллов с помощью метода ДОЭ.

Использование гибридного конической объективной линзой, использующей скрещенные электростатические и электромагнитные поля (Super Hybrid Lens) обеспечивает превосходный эффект, эквивалентный эффекту коррекции аберрации, значительно улучшающему пространственное разрешение, особенно при низких ускоряющих напряжениях.

Электронно-оптическая колонна NeoEngine новой разработки включена в JSM-7900F. Новая колонна значительно улучшает точность управления электронным лучом. Улучшена функциональность автоматической фокусировкй и автоматического стигматора. Имея в распоряжении такие мощные функции, даже начинающий пользователь может легко получать изображения со сверхвысоким разрешением.

Кроме того, стандартный нижний детектор обеспечивает детектирование отраженных электронов, испускаемых при малых углах. Работа в режиме детектирования этих электронов позволяет снизить эффект электростатического заряда на поверхности образца. JSM-7900F включает пушку Шоттки, погружённую в конденсор для получения яркого электронного луча и обеспечивающую острую фокусировку даже при больших токах. Кроме того, образец не находится в области электромагнитных полей объективной линзы.

Безмасляная высоковакуумная откачка турбомолекулярным насосом обеспечена в стандартной комплектации. JSM-7900F позволяет одновременно, в режиме реального времени, наблюдение изображений с четырех детекторов. В результате, вы всегда можете легко найти соответствующий вашим потребностям сигнал изображения. Применяя напряжение смещения на образце, вы можете наблюдать непроводящие образцы, в том числе изоляционные материалы (керамика и т.д.) и полупроводники.

Стандартный 5-осевой моторизованный столик образцов не только предотвращает образец от контакта с корпусом и деталями детекторов для обеспечения безопасности, но и позволяет задать условия перемещения для каждого нового образца.

Энергосберегающая система автоматически снижает потребление электроэнергии в случае, если РЭМ временно не используется.

Параметры Значения
Тип источника электронов эмиттер Шоттки
Низковакуумный режим опция
Пространственное разрешение 1,0 нм (ускоряющее напряжение 0,5 кВ), 0,7 нм (ускоряющее напряжение 1 кВ), 0,6 нм (ускоряющее напряжение 15 кВ) 3,0 нм при микроанализе (ускоряющее напряжение 5 кВ)
Энергия электронного луча от 10 эВ до 30 кэВ
Увеличение от ×25 до ×1 000 000 (при отображении на поле 120 × 90 мм) от ×75 до ×3 000 000 (при отображении на штатном мониторе)
Ток луча от 10-12 до 5×10-7 А
Аналитические приставки - опции ЭДС, ВДС, ДОЭ, анализаторы катодолюминесценции
Максимальный размер образца диаметр до 200 мм
Столик образцов Моторизованный по пяти осям. Ось X: 70 мм Ось Y: 50 мм Ось Z: от 2 до 41 мм (непрерывно) Наклон: от –5 до 70° Вращение: 360° непрерывно
Система вакуумной откачки турбомолекулярная и ионная
Система шлюзования есть
Московское представительство компании Interactive Corporation
115191 Россия, Москва, ул. Большая Тульская, д.10, стр. 2, офис 222
тел/факс: +7 (495) 748 20 07, +7 (495) 737 51 68, e-mail: iac@microanalysis.ru