РУС ENG
 
Interactive Corporation — японская торговая компания, основанная в 1993 году, поставляет высокотехнологичное научное и промышленное оборудование ведущих японских, европейских и американских производителей.
 
Interactive Corporation — авторизованный торговый агент компаний: JEOL Ltd., Oxford Instruments, Gatan, Advance Riko, Cornes Technologies, Yamazaki Mazak.
Авторизованный дилер JEOL Ltd в России и странах СНГ

Компактные растровые электронные микроскопы серии JSM-IT200

Компактные растровые электронные микроскопы серии JSM-IT200

JSM-IT200 – серия компактных растровых электронных микроскопов от JEOL с возможностью работы в различных средах, обеспечивающий получение высококачественных изображений и микроанализ.

Сенсорный экран управляющего компьютера – новый подход в организации дружественного и интуитивно понятного интерфейса.

Данный микроскоп имеет широкие аналитические возможности: качественный и количественный элементный микроанализ с помощью полностью интегрированной безазотной системы ЭД микроанализа, получение изображений с высоким пространственным разрешением, возможность работы в низковакуумном режиме (низковакуумный режим работы позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящего слоя, в том числе биологические и полимерные материалы, стекла, нефтематеринские породы и т.д.). 

Параметры Значения
Тип источника электронов прямонакальный эмиттер,не требующий юстировки
Низковакуумный режим в моделях JSM-IT200LV и JSM-IT200LA
Пространственное разрешение 3 нм при 30 кВ, 8 нм при 3 кВ и 15 нм при 1 кВ
Пространственное разрешение в низковакуумном режиме 4 нм (ускоряющее 30 кВ, рабочее расстояние 5 мм, сигнал отражённых электронов)
Энергия электронного луча от 0,5 до 30 кВ
Увеличение от 5 до 300 000 крат (в пересчёте на изображение форматом 10x15 см)
Ток луча от 1 пА до 1 мкА
Детекторы детектор Эверхарта-Торнли для ВЭ, детектор Эверхарта-Торнли для ОЭ, полупроводниковый детектор ОЭ в режимах «контраст по атомному номеру», «топографический контраст», «стереоизображение», специальный детектор вторичных электронов для низкого вакуума
Аналитические приставки - опции ЭДС, ВДС, ДОЭ, анализ катодолюминесценции, тензостолики, температурные столики
Максимальный размер образца 150 мм в диаметре
Столик образцов Ось X: 80 мм Ось Y: 40 мм Ось Z: Эвцентричное перемещение от 5 до 48 мм, Наклон: от -10° до 90° (вручную) Поворот: 360°, непрерывно
Система вакуумной откачки турбомолекулярная
Система шлюзования опция

JSM-IT200 сканирующий электронный микроскоп обладает следующими особенностями:

Эффективность:

Электронно-оптическая система микроскопа позволяет получать электронные изображения с разрешением не хуже 3 нм при ускоряющем напряжении 30 кВ. Такие показатели позволяют решать широкий круг задач от наблюдения за объектом с высоким разрешением до ЭДС анализа (энергодисперсионный анализ) Микроскоп JSM-IT200 сравним по эффективности с high-end приборами, в том числе и при работе с низкими ускоряющими напряжениями.

Энергодисперсионный анализ (ЭДС):

Кремнедрейфовый ЭДС детектор входит в стандартную спецификацию микроскопа (Разрешение: 130 эВ) Стандартные условия получения ЭДС спектров: Рабочее расстояние 10 мм угол сбора 35° Не меняя условий наблюдения микроскоп позволяет выполнять эффективный анализ, проводить ЭДС картирование при низких увеличениях и получать изображение с высоким разрешением. Все функции ЭДС интегрированы в программное обеспечение микроскопа.

Наблюдение непроводящих образцов:

В микроскопе предусмотрен режим беззарядового сканирования (CF scan) препятствующий образованию заряда на непроводящем образце. Дополнительно можно использовать режим низкого вакуума, который входит в стандартную комплектацию микроскопа. Применение этих методов позволяет наблюдать непроводящие образцы, без предварительной пробоподготовки.

Компактность:

JSM-IT200 самый компактный прибор среди полноценных сканирующих микроскопов, он может быть установлен практически в любом помещении.

Система управления:

Дисплей с диагональю 27 дюйма делает работу с микроскопом быстрой и интуитивно-понятной. С помощью подсказок оператор легко выполнит стандартные операции: поиск и наблюдение образца, анализ и многие другие. Функция Zeromag использует интерактивную фотографию столика образцов для легкой навигации и поиска интересующих областей для анализа, при работе с несколькими образцами. Функция записи видео при наблюдении позволяет сохранить всю процедуру исследования образца и оценить динамические изменения при наблюдении. В стандартном пакете программного обеспечения включена функция монтажа, которая позволяет сшивать изображения и создавать панорамные снимки образцов с предельной детализацией.

Московское представительство компании Interactive Corporation
115191 Россия, Москва, ул. Большая Тульская, д.10, стр. 2, офис 222
тел/факс: +7 (495) 748 20 07, +7 (495) 737 51 68, e-mail: iac@microanalysis.ru