РУС ENG
 
Interactive Corporation — японская торговая компания, основанная в 1993 году, поставляет высокотехнологичное научное и промышленное оборудование ведущих японских, европейских и американских производителей.
 
Interactive Corporation — авторизованный торговый агент компаний: JEOL Ltd., Oxford Instruments, Gatan, Ulvac-Riko, Nikon Instech, Yamazaki Mazak.
Авторизованный дилер JEOL Ltd в России и странах СНГ

Сканирующий зондовый микроскоп JSPM-5400

Сканирующий зондовый микроскоп JSPM-5400

Модель JSPM–5400 –  сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения, имеющий режим бесконтактной атомно-силовой микроскопии. Дополнительно включает в себя цифровой процесс обработки сигнала (DSP), осуществляемый системой полного компьютерного управления прибором с помощью интуитивно понятного графического пользовательского интерфейса (GUI).

 

Данный сканирующий зондовый микроскоп характеризуется простотой управления и расширенным диапазоном функций, удовлетворяющих потребностям дополнительных режимов наблюдения.

 

Основные характеристики:

 

  • Встроен новый усилитель для атомно-силовой микроскопии с цифровой системой автоподстройки частоты. Данная функция позволяет проводить стабильные воспроизводимые наблюдения на атомном уровне.
  • Интуитивно понятный графический интерфейс пользователя GUI на базе Windows XP позволяет управлять системой без избыточного пользования инструкцией по эксплуатации.
  • Вы можете легко и быстро выполнять различные задания, такие как переустановка сканера и монтаж принадлежностей, в том числе держателя нагрева, используя автоматическую функцию распознавания сканера. 
  • Усиление механизма столика дает возможность получения стабильного и бездрейфового изображения на предельных увеличениях.

Микроскоп JSPM-5400 обеспечивает атомное разрешение, может работать при комнатной, повышенной и криогенной температуре, на воздухе, в вакууме и в жидкости, в условиях действия сильных магнитных и электрических полей, СВЧ- и оптического облучения и т.п.

 

Параметры Значения
Разрешение в АСМ режиме 1 ангстрем по X,Y; 0,2 ангстрема по Z
Разрешение в СТМ режиме 1 ангстрем по X,Y; 0,2 ангстрема по Z
Дрейф системы менее 0,5 ангстрем/сек
Бесконтактный АСМ режим частотного детектирования топографическое изображение; частотное изображение; диссипативная зондовая микроскопия
Бесконтактный АСМ режим амплитудного детектирования топографическое изображение; фазовое изображение; амплитудное изображение
Контактный АСМ режим топографическое изображение; силовое изображение; контактное токовое изображение; FFM микроскопия
Спектроскопия в АСМ режиме силовые кривые; кривые силы трения; I-V спектроскопия
Другие АСМ режимы измерение латеральных сил; измерение вязкоупругости; топографическое изображение SKPM; магнито-силовая микроскопия; электро-силовая микроскопия
СТМ режимы: топографическое изображение; токовое изображение; CITS; спектроскопии I-V S-V I-S S-I
Диапазон сканирования зондом X,Y,Z 20 мкм х 20 мкм х 3 мкм (стандарт)
Размеры образца 10 мм х 10 мм х 3 мм (стандарт); 50 мм х 50 мм х 5 мм (максимальный)
Диапазон перемещения образца X,Y,Z 6 мм х 6 мм х 5 мм
Жидкостная ячейка опция
Нагрев и охлаждение образца от -143 до +500 градусов по Цельсию (опция)
Вакуумная откачка камеры образцов по запросу пользователя

 

Зондовыми методами можно исследовать самые разнообразные материалы: проводящие, диэлектрические, биологические и другие  – и при этом без трудоемкой подготовки образцов. Данные методы могут использоваться для локального определения атомных конфигураций, магнитных, электрических, тепловых, химических и других свойств поверхности. Важным аспектом является и то обстоятельство, что помимо исследовательских функций сканирующая туннельная микроскопия может выполнять еще и активные – обеспечивать захват отдельных атомов, перенос их в новую позицию, атомарную сборку проводников шириной в один атом, локальные химические реакции, манипулирование отдельными молекулами.


Московское представительство компании Interactive Corporation
115191 Россия, Москва, ул. Большая Тульская, д.10, стр. 2, офис 222
тел/факс: +7 (495) 748 20 07, +7 (495) 737 51 68, e-mail: iac@microanalysis.ru