РУС ENG
 
Interactive Corporation — японская торговая компания, основанная в 1993 году, поставляет высокотехнологичное научное и промышленное оборудование ведущих японских, европейских и американских производителей.
 
Interactive Corporation — авторизованный торговый агент компаний: JEOL Ltd., Oxford Instruments, Gatan, Advance Riko, Cornes Technologies, Yamazaki Mazak.
Авторизованный дилер JEOL Ltd в России и странах СНГ

Растровая электронная микроскопия

Растровая электронная микроскопия

 

Физические принципы растровой электронной микроскопии

  

Растровый электронный микроскоп основан на использовании предварительно сформированного тонкого электронного луча (зонда), положением которого управляют с помощью электромагнитных полей. Это управление (сканирование) во многом аналогично процессу развертки в телевизионных кинескопах. Электронный зонд последовательно проходит по поверхности исследуемого образца.

 

Под воздействием электронов пучка происходит ряд процессов, характерных для данного материала и его структуры. К их числу относится рассеяние первичных электронов, испускание (эмиссия) вторичных электронов, появление электронов, прошедших сквозь объект (в случае тонких объектов), возникновение характеристического излучения. В ряде специальных случаев (люминесцирующие материалы, полупроводники) возникает также световое излучение.

 

Регистрация электронов, выходящих из объекта, а также других видов излучения (характеристического, светового) дает информацию о различных свойствах микроучастков изучаемого объекта. Соответственно этому системы индикации и другие элементы растровых микроскопов различаются в зависимости от вида регистрируемого излучения.

 

Синхронно с разверткой электронного зонда осуществляется построение изображения на мониторе компьютера (яркость пикселя на мониторе пропорциональна величине регистрируемого сигнала). Например, в случае работы растрового электронного микроскопа в режиме индикации тока вторичных электронов величина вторичного электронного тока определяет глубину модуляции яркости на мониторе компьютера. Растровый электронный микроскоп такого типа позволяет получить увеличение 5 – 1 000 000 крат при достаточной контрастности изображения.

 

Разрешающая способность растровых электронных микроскопов такого класса определяется диаметром электронного зонда и материалом образца и составляет 10 ангстрем.

Компактные растровые электронные микроскопы серии JSM-IT200

Компактные растровые электронные микроскопы серии JSM-IT200

JSM-IT200 – серия компактных растровых электронных микроскопов от JEOL с возможностью работы в различных средах, обеспечивающий получение высококачественных изображений и микроанализ.

Сенсорный экран управляющего компьютера – новый...

Настольный растровый электронный микроскоп JCM-7000 NeoScope

Настольный растровый электронный микроскоп JCM-7000 NeoScope

Новый настольный РЭМ легок в управлении для начинающего. Полная автонастройка параметров электронно-оптической системы. Легкость управления обеспечена благодаря сенсорному экрану. Микроскоп компактен, но многофункционален. В режиме высокого...

Растровые электронные микроскопы серии JSM-IT500

Растровые электронные микроскопы серии JSM-IT500

Микроскоп JSM-IT500LV это растровый электронный микроскоп с возможностью работы в низковакуумном режиме. Оснащён удобным и понятным пользовательским интерфейсом. Обладает высокой производительностью за счёт высокоскоростного столика образцов и...

Растровые электронные микроскопы серии JSM-IT500HR

Растровые электронные микроскопы серии JSM-IT500HR

Растровый электронный микроскоп JSM-IT500HR оснащён удобным и понятным пользовательским интерфейсом. Обладает высокой производительностью за счёт высокоскоростного столика образцов и возможностью управления посредством сенсорного экрана....

Растровый электронный микроскоп высокого разрешения JIB-4700F Multibeam с ионной пушкой для микротравления

Растровый электронный микроскоп высокого разрешения JIB-4700F Multibeam с ионной пушкой для микротравления

Многолучевая система JIB-4700F – многофункциональный исследовательский инструмент, состоящий из сканирующего электронного микроскопа с термополевым катодом Шоттки (TFE-SEM) и системы травления сфокусированным ионным лучом (FIB), смонтированными на...

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7900F

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7900F

JSM-7900F - многоцелевой растровый электронный микроскоп с эмиттером Шоттки, который позволяет выполнять широкий спектр анализов и наблюдений с высоким пространственным разрешением.

Электронная оптическая система обеспечивает...

Московское представительство компании Interactive Corporation
115191 Россия, Москва, ул. Большая Тульская, д.10, стр. 2, офис 222
тел/факс: +7 (495) 748 20 07, +7 (495) 737 51 68, e-mail: iac@microanalysis.ru